Обработка и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Критические аспекты

NT-MDT Spectrum Instruments представляет запись вебинара, проведенного Ведущим специалистом по АСМ применениям, к.т.н. Леесментом Станиславом Игоревичем:
«Обработка и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Критические аспекты»
Вебинар прошел 15 мая 2019.

К.т.н. Станислав Леесмент, Ведущий специалист по СЗМ-приложениям НТ-МДТ Спектрум Инструментс, рассказал про обработку и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии, а также про подготовку образцов и получение изображений – критические стадии работы с СЗМ. В течение вебинара были рассмотрены основные фазы обработки СЗМ изображений, проанализированы большинство типичных ошибок и даны рецепты для пары сложных случаев. Вторая часть вебинара посвящена некоторым методам анализа изображений, позволяющим получать количественную информацию из данных СЗМ.

Ссылка на программу Image Analysis 3.5

Обработка и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Критические аспекты